效劳热线
400-800-6106
高分子质料断口剖析是高分子质料失效剖析的主要方法之一，，，，，，断裂剖析对证料的研发设计有主要意义，，，，，，通过对其剖析查找原理，，，，，，相识机理来提高产品质量，，，，，，刷新工艺或者起到判断责任等作用 。。。断裂是指质料收到外力爆发随机性的破碎，，，，，，疏散成两个或者多个部分的征象 。。。断裂后的外貌或者横截面称为断口，，，，，，通过对断口的形貌特征剖析，，，，，，来研究高分子质料失效的性子和缘故原由 。。。断口形貌特征剖析是高分子质料研究的主要要领之一 。。。高分子质料在外加载荷作用下渐裂司理了裂纹萌生、稳固扩展和快速扩展至三个阶段 。。。
1、宏观视察
用肉眼或放大镜低倍视察，，，，，，一样平常只能视察，，，，，，不可照相，，，，，，视察到的信息通常接纳语言举行形貌 。。。其放大倍率低于50倍，，，，，，一样平常10倍左右，，，，，，可以用来视察断口外貌的粗糙度，，，，，，裂纹起始、扩展及最终断裂区的特征，，，，，，判断裂纹走向、起裂源位置、载荷类型及水一律 。。。通常情形下此法是为进一步的光学显微镜视察网络信息的 。。。低倍视察仅要求断口外貌清洁，，，，，，无污染即可 。。。
2、光学显微镜视察
光学显微镜较常用的是体视显微镜，，，，，，当对宏观断口上的一些特征细节有须要做进一步放大视察时，，，，，，可以选用光学显微镜直接放大视察 。。。另外通常剖析职员也接纳低倍的光学显微镜做全断口的照相纪录，，，，，，以获取更周全更细节的断口信息，，，，，，也为下一步微观视察提供基础信息 。。。
3、扫描电镜视察
扫描电镜是一种微观视察的要领，，，，，，放大倍数可以到上千倍，，，，，，甚至上万倍，，，，，，通常与能谱仪(EDS)连用，，，，，，在断口剖析里主要有形貌视察和微区因素剖析两个用途 。。。由于高分子质料导电性较差，，，，，，在扫描视察前需在断口上喷涂一定厚度的导电质料，，，，，，如金、铂等 。。。另外，，，，，，为了避免断口外貌烧伤，，，，，，需要控制好视察电压，，，，，，一样平常5-15Kv为宜 。。。能谱仪举行因素剖析时，，，，，，可以接纳点扫描、线扫描及面扫描三种形式，，，，，，详细可凭证现实需要举行选择 。。。
（扫描电镜/SEM）
微信咨询
信息提交乐成